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應用背景該文章翻譯于FraunhoferCSP和DiagnosticsａndMetrologySolarCellsdivision等機構共同研究的工作。電勢誘導衰減（PID效應）普遍存在于晶體硅太陽能電池中，通常是由鈉離子產生分流效應引起的，傳統(tǒng)太陽能電池已經開發(fā)出標準的PID測試條件。利用FreiburgInstruments開發(fā)的PIDcon設備，我們研究了標準化PID測試程序是否適用于各種結構和成分的鈣鈦礦太陽能電池，結果發(fā)現(xiàn)盡管鈣鈦礦材料與硅基電池結構有明顯差異，但P...

在當今科技飛速發(fā)展的時代，CT-半導體元器件猶如一顆顆微小卻無比強大的明珠，鑲嵌在各種電子設備之中，成為現(xiàn)代科技的基石。CT-半導體元器件的核心在于其獨特的導電特性。半導體的導電能力介于導體和絕緣體之間，這一特性使得人們可以通過精確的控制手段，如摻雜雜質原子等方法，來改變其電學性能。例如，在硅晶體中摻入磷原子就會產生多余的電子，形成N型半導體;而摻入硼原子則會產生空穴，成為P型半導體。這種對材料電學性質的精準調控為制造各種功能各異的半導體元器件奠定了基礎。晶體管是最具代表性的...

在工程力學和材料科學領域，對材料的內部結構和力學行為的深入研究至關重要。這不僅關系到材料的應用性能，還直接影響到工程安全和效率。目前，我們要介紹的是Skyscan2214和MTS（材料力學試驗機）這一對在力學研究中不能缺少的黃金搭檔。Skyscan2214：高分辨率X射線成像系統(tǒng)Skyscan2214是由Bruker公司生產的高分辨率X射線成像系統(tǒng)，它在材料內部結構研究中扮演著重要角色。以下是Skyscan2214的一些關鍵特性和應用：1.高分辨率成像能力Skyscan221...

掠入射衍射介紹掠入射衍射（GID,Grazingincidencediffraction）是研究多晶薄膜的一種常用方法。薄膜樣品在Bragg-Brentano對稱衍射中通常表現(xiàn)出非常微弱的衍射信號，原因在于X射線可穿透薄膜照射到底層襯底，由于襯底其較大的散射體積，導致其衍射信號在終端信號中占據(jù)主導地位。然而，如果不是BB幾何的發(fā)散光路，而是一束細的平行光束照向樣品表面，這樣它只穿透薄膜而不穿透下方的襯底材料，那么來自薄膜的衍射信號則會成為主導。通過優(yōu)化平行光束的入射角度，可以...

在現(xiàn)代半導體制造業(yè)中，對晶圓片表面質量的精確檢測是至關重要的。晶圓片在線面掃檢測儀作為一種先進的檢測設備，因其能夠實時監(jiān)控晶圓片表面的微小缺陷，被廣泛應用于半導體生產線上。晶圓片在線面掃檢測儀的設計充分考慮了高效檢測的需求。它通常由一個高速掃描系統(tǒng)和一個高分辨率成像系統(tǒng)組成，能夠在晶圓片傳輸過程中實時捕捉表面圖像，并通過圖像處理算法自動識別和分類各種缺陷。這種設計不僅能夠提高生產效率，還能夠顯著降低因缺陷導致的產品報廢率。晶圓片在線面掃檢測儀還具備多種高級功能，以滿足不同的應...

上篇介紹了俄歇電子能譜（AES）的定性分析、定量分析及化學態(tài)分析功能，本篇我們將繼續(xù)分享更多AES高級功能，其中包括表面形貌觀察、深度分析及顯微分析。表面形貌觀察AES作為一種先進的電子束探針表征技術，在納米級乃至更高精度的空間分辨要求上展現(xiàn)出了強大的優(yōu)勢，因此非常適用于納米尺度材料的表征。與掃描電子顯微鏡（SEM）和透射電子顯微鏡（TEM）等依賴電子束探針的技術相似，AES在電子束聚焦能力上表現(xiàn)出色，尤其是場發(fā)射電子束技術的融入，極大地提升了其空間分辨能力。當前PHI710...

順磁共振譜儀(EPR)是一種基于電子自旋共振現(xiàn)象，用于研究含有未成對電子的順磁物質的儀器。其工作原理和優(yōu)勢如下：工作原理1.建立磁場：首先在儀器中建立一個強磁場，通常使用超導磁體來產生很高的磁場。2.激發(fā)電磁輻射：使用微波源產生特定頻率的微波輻射，這個頻率通常是與順磁物質的共振頻率相匹配的。微波輻射被引導到樣品中，并與樣品中的未成對電子進行相互作用。3.收集信號：通過所謂的共振回路(resonator)收集樣品中電子的共振信號。共振回路是通過感應線圈和諧振電路組成的。4.分析...

在半導體制造領域，質量控制是確保芯片性能和可靠性的關鍵環(huán)節(jié)。隨著技術的發(fā)展，晶圓片在線面掃檢測儀成為了這一過程中不可或缺的工具。晶圓片在線面掃檢測儀是一種高精度的檢測系統(tǒng)，專門用于監(jiān)測晶圓片表面的微小缺陷。這些缺陷可能包括顆粒污染、劃痕或圖案不完整等，它們都可能影響最終產品的性能。通過實時監(jiān)測，該設備能夠及時發(fā)現(xiàn)問題并反饋給生產線，從而避免不良品的產生。該檢測儀基于光學掃描技術。一束激光或強光被引導至晶圓片表面，并通過高分辨率的攝像頭捕捉反射回來的光線。如果晶圓片表面存在任何...